Um SEM (Scanning electron microscopy) necessita de diferentes tipos de alimentação.Um dos componentes que são alimentados por fontes de alta corrente é o
AWDS - Wavelength Dispersive X-ray Spectrometry.
BEstágio de aceleração do feixe de elétrons.
CBomba de íons (UHV – ultra high vacuum).
DLente objetiva eletromagnética.
EFEG – Field emission gun.
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GabaritoD — Lente objetiva eletromagnética.
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Componentes do SEM e fontes de alta corrente
Gabarito: letra D. A lente objetiva eletromagnética utiliza corrente elétrica elevada (da ordem de ampères) para gerar o campo magnético necessário ao foco do feixe de elétrons, enquanto os demais componentes – WDS, estágio de aceleração, bomba de íons e FEG – operam com altas tensões ou baixas correntes, não sendo alimentados por fontes de alta corrente.
No microscópio eletrônico de varredura (SEM), cada subsistema possui exigências elétricas distintas:
WDS (espectrômetro de raios X por dispersão de comprimento de onda): detector composto por cristal analisador e contador, alimentado por circuitos de baixa potência; não requer alta corrente.
Estágio de aceleração: aplica alta tensão (kV) ao feixe, mas a corrente do feixe é da ordem de picoampères a nanoampères; a fonte é de alta tensão, não de alta corrente.
Bomba de íons (UHV): opera por ionização de gases residuais sob alta tensão (kV) e corrente muito baixa (µA).
Lente objetiva eletromagnética: bobina percorrida por corrente contínua elevada (tipicamente 1–10 A) para produzir campo magnético intenso e focalizar o feixe.
FEG (canhão de emissão de campo): extrai elétrons por efeito de campo sob alta tensão (kV) e corrente de emissão reduzida (µA).
SE LIGUE NESSA!
A distinção-chave é que lentes magnéticas consomem potência significativa na forma de corrente, enquanto os outros componentes priorizam alta tensão ou baixa potência.
✅ Alternativa correta: D — Lente objetiva eletromagnética.