Questão de Física — Ótica — FUNCERN 2025
FísicaÓtica
- Código
- qg466684
- Banca
- FUNCERN
- Órgão
- IF-PE
- Ano
- 2025
- Nível
- Superior
- Cargo
- Professor EBTT - Física
Um sistema de inspeção óptica de alta precisão em semicondutores utiliza um feixe de luz de uma fonte coerente que passa por um polarizador linear e é direcionado para uma amostra. A luz refletida pela superfície da amostra é então focalizada em uma rede de difração. O padrão de luz resultante é capturado por um detector CCD, onde a análise das franjas de brilho e escuridão permite inferir propriedades nanométricas do material. A interação dos fenômenos ópticos nesse processo é:
- AO polarizador e a rede de difração causam a refração e a reflexão da luz, e o padrão de interferência é uma propriedade intrínseca da fonte de luz, que apenas é visualizada pelo detector.
- BA polarização da luz incidente controla a orientação do campo elétrico. A rede de difração separa a luz refletida em ordens, o que cria o padrão de franjas no detector.
- CA interferência da luz ocorre quando o feixe polarizado atinge a amostra, resultando em um padrão de difração homogêneo na rede, que é diretamente proporcional à rugosidade da superfície.
- DA difração da luz na rede é o processo que a polariza, permitindo que as ondas interajam para formar um padrão de interferência, que é independente do comprimento de onda da luz utilizada.
- EA luz é polarizada para amplificar seu comprimento de onda, o que melhora a difração na rede. A interferência é um efeito colateral irrelevante, pois a informação principal está na intensidade da luz refletida.