Questão de Museologia — Conceitos Fundamentais — FURG 2025
MuseologiaConceitos Fundamentais
- Código
- qg502017
- Banca
- FURG
- Órgão
- FURG
- Ano
- 2025
- Nível
- Superior
- Cargo
- Museólogo
As análises físico-químicas e óticas (direta e indiretas) para materiais inorgânicos podem ser utilizadas para caracterizar os materiais (composição mineral e/ou química, estrutura, organização etc.), determinar alguns procedimentos técnicos de fabricação e detectar e determinar alguns fenômenos de alteração ou degradação, relacionados a problemas de conservação. Existem análises destrutivas, microdestrutivas e não destrutivas. Assinala a alternativa que não apresenta técnicas destrutivas.
- AEspectrometria de Fluorescência de Raio X (FRX/XRF); Microanálise por Sonda Eletrônica (MPSE/EPMA); Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV/SEM); e Emissão de Raios X Induzida por Partículas (EXIP/PIXE).
- BEspectrometria de Fluorescência de Raio X (FRX/XRF); Espectrometria de Emissão de Arco (EEA/AES); Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV/SEM); e Emissão de Raios X Induzida por Partículas (EXIP/PIXE).
- CEspectrometria de Difração de Raio X (DRX/XRD); Microanálise por Sonda Eletrônica (MPSE/EPMA); Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV/SEM); e Emissão de Raios X Induzida por Partículas (EXIP/PIXE).
- DEspectrometria de Fluorescência de Raio X (FRX/XRF); Microanálise por Sonda Eletrônica (MPSE/EPMA); Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV/SEM); e Cromatografia em Fase Gasosa Acoplada à Espectrometria de Massa (CPG-EM/GC-MS).
- EEspectrometria de Fluorescência de Raio X (FRX/XRF); Análise de Ativação por Nêutrons (ANA/NAA); Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV/SEM); e Espectrometria de Massa por Plasma Acoplado Indutivamente (EM-PAI/ICP-MS).