Questão de Química — Técnicas de Laboratório — FURG 2025
QuímicaTécnicas de Laboratório
- Código
- qg502062
- Banca
- FURG
- Órgão
- FURG
- Ano
- 2025
- Nível
- Superior
- Cargo
- Químico
Sobre aspectos da análise de Espectroscopia Eletrônica de Fótoelétrons (XPS), analisa as afirmativas abaixo e assinala V para as verdadeiras e F para as falsas.( ) Os deslocamentos químicos dos picos de energia de ligação são frequentemente usados para identificar diferentes estados de oxidação de um elemento porque, ao oxidar, o átomo perde elétrons, reduzindo a blindagem da carga nuclear sobre os elétrons remanescentes.( ) A profundidade de análise do XPS é limitada a poucos nanômetros (tipicamente 1–10 nm), dependendo da energia cinética dos elétrons emitidos e do caminho médio livre desses elétrons.( ) Ao se reduzir o ângulo de emissão (análise em modo raso), aumenta-se a sensibilidade à superfície, pois os elétrons que emergem de maiores profundidades têm menor chance de serem absorvidos.( ) Picos satélites (shake-up) podem causar sobreposição de picos, dificultando a deconvolução e a análise quantitativa. Esses picos aparecem no espectro quando a amostra contém compostos com elementos que possuem orbitais d ou f parcialmente preenchidos.( ) Em amostras isolantes, a emissão de elétrons leva a uma carga positiva acumulada, que atrai os elétrons emitidos subsequentes, aumentando suas energias de ligação aparentes.A ordem CORRETA de preenchimento dos parênteses, de cima para baixo, é:
- AV - F - V - V - V
- BF - V - V - V - V.
- CV - V - F - V - V.
- DV - V - V - F - F
- EV - V - F - F - V