Questão de Farmácia — Controle de Qualidade Industrial — CETRO 2013
FarmáciaControle de Qualidade Industrial
- Código
- qq004262
- Banca
- CETRO
- Órgão
- ANVISA
- Ano
- 2013
- Nível
- Superior
- Cargo
- Especialista em Regulação - Vigilância Sanitária – Área 1 - Prova Anulada
A difratometria de raios X corresponde a uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais cristalinos, encontrando aplicações em diversos campos do conhecimento. É correto afirmar que, na difratometria de raios X,
- Aa intensidade de difração de raios X independe do número de elétrons dos átomos em um dado plano cristalino.
- Ba difração de raios X está relacionada ao espalhamento elástico dos raios X incidentes sobre uma amostra.
- Cas condições para que ocorra a difração de raios X vão depender apenas do comprimento de onda da radiação incidente.
- Da determinação de tamanho de cristalitos refere-se a uma medida direta, sem a necessidade de comparação com padrão ou calibração instrumental.
- Eos planos de difração e suas respectivas distâncias interplanares, bem como as densidades de átomos, são características comuns a várias substâncias cristalinas.