Questão de Ciência e Tecnologia — Geral — VUNESP 2025
Ciência e TecnologiaGeral
- Código
- vu112274
- Banca
- VUNESP
- Órgão
- UNESP
- Ano
- 2025
- Nível
- Superior
- Cargo
- V - - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177
Na Microscopia de Força Atômica (AFM), diferentes modos de operação são utilizados conforme o tipo de amostra e o tipo de informação que se deseja obter.Sobre os modos de análise que são classificados em contato, dinâmico e fase, é correto afirmar que
- Ano modo de contato, a ponta oscila próximo à frequência de ressonância para minimizar interação com a amostra.
- Bo modo dinâmico é mais adequado para amostras rígidas e irregulares, pois exerce maior força sobre a superfície.
- Co modo de fase fornece informações sobre as propriedades da amostra, operando sem contato direto da ponta com a superfície.
- Do modo de contato obtém imagens de altíssima resolução e é o mais rápido entre os modos topográficos.
- Eo modo de contato é o mais indicado para amostras macias e facilmente deformáveis.