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Questão de Ciência e Tecnologia — Geral — VUNESP 2025

Ciência e TecnologiaGeral
Código
vu112285
Banca
VUNESP
Órgão
UNESP
Ano
2025
Nível
Superior
Cargo
V - - Assistente de Suporte Acadêmico III - Área de Atuação: Microscopia, Análise de Imagens e Caracterização de Materiais - Edital nº 177
A preparação e as medidas de amostras por microscopia de força atômica (AFM) requerem uma atenção especial, porque
  1. Ao ambiente de operação é altamente corrosivo, exigindo metalização prévia.
  2. Ba amostra deve ser metálica para possibilitar a aquisição da imagem por AFM.
  3. Co modo de contraste exige superfícies com alta condutividade térmica.
  4. Dirregularidades topográficas elevadas podem causar danos a ponta do cantiléver.
  5. Ea medida AFM é conduzida em atmosfera inerte para prevenir reações superficiais na amostra.
Revelar gabarito e comentário

GabaritoD — irregularidades topográficas elevadas podem causar danos a ponta do cantiléver.

Comentário gerado por IA. É um apoio ao estudo, ancorado em fontes, mas pode conter imprecisões — confira sempre na fonte oficial (lei, súmula, edital e gabarito da banca). Encontrou um erro? Use “Reportar”.

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