Questão de Engenharia Química e Química Industrial — Técnicas de Laboratório e de Caracterização de Materiais — VUNESP 2025
Engenharia Química e Química IndustrialTécnicas de Laboratório e de Caracterização de Materiais
- Código
- vu112338
- Banca
- VUNESP
- Órgão
- UNESP
- Ano
- 2025
- Nível
- Superior
- Cargo
- V - - Assistente de Suporte Acadêmico IV - Área de Atuação: Ciência dos Materiais - Edital nº 196
Através de um difratograma de raios X, é possível realizar análises qualitativas e quantitativa de uma amostra que está sendo estudada. Qual o procedimento para a identificação das fases presentes e da quantidade dessas fases utilizando um difratograma de raios X?
- AObter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra e somente a análise de Rietveld pode dar informações qualitativas.
- BObter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra e somente a análise de Rietveld pode dar informações quantitativas.
- CObter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra, e a largura dos picos a meia altura é usada em sua análise quantitativa.
- DObter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). A altura ou intensidade relativa dos picos é usada para determinar as fases presentes, e a largura dos picos a meia altura é usada na análise quantitativa da amostra.
- EObter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2θ e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra, e a intensidade relativa dos picos é usada em sua análise quantitativa.