Banco de Questões de Concursos

Raios-X são produzidos quando, por exemplo, elétrons de alta energia cinética são rapidamente desacelerados ao colidirem com um alvo. Analisando o espectro emitido, nota-se a presença do chamado espectro característico do alvo e de uma radi…

A análise do padrão de difração apresentado por uma amostra passa pela análise de seus picos de difração. Há diversos aspectos que interferem na intensidade dos picos, como o fator de espalhamento atômico (quociente entre a amplitude da ond…

A técnica de fotoelétrons excitados por raios-X (XPS) fornece informações sobre a composição atômica, identificação elementar, estado químico e número de coordenação dos átomos na superfície de uma amostra. Analise as assertivas abaixo sobr…

No contexto da espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios-X, dois tipos comuns de analisadores de energia de elétrons são o analisador de espelho cilíndrico e o analisador de setor hemisférico. Em relação a esses componentes, analis…

Considere que uma amostra cristalina desconhecida será convertida em pó para ser analisada por difração de raios-X. Após a realização da análise, obtém-se um difratograma. Ao comparar o difratograma da amostra em estudo com os de substância…

A espectroscopia de fotoelétrons de raios-X de alta resolução (HR-XPS) é uma técnica baseada no efeito fotoelétrico. O monocromador usado em XPS de alta resolução apresenta algumas vantagens frente a outros métodos, mas também algumas limit…

A análise de componentes principais (PCA) é uma técnica estatística amplamente utilizada. Assinale a alternativa que melhor descreve a PCA e seu uso.

Quando a análise de amostras policristalinas em formato de pó é necessária, um método específico é requerido para lidar com as sobreposições das reflexões, que podem resultar em perda de informação. O método de Rietveld é uma abordagem que…

Nos microscópios eletrônicos, o canhão de elétrons mais comum é conhecido como tipo tríodo, e consiste em três componentes principais. Relacione a Coluna 1 à Coluna 2, associando os componentes do canhão de elétrons às suas respectivas desc…

Qual é a função das lentes condensadoras em um microscópio eletrônico?

Na microscopia eletrônica, as lentes eletromagnéticas focalizam o feixe de elétrons na amostra. No entanto, imperfeições na deflexão resultam em aberrações, causando uma divergência nos raios eletrônicos e uma imagem desfocada. Assinale a a…

Qual é o resultado do espalhamento elástico de elétrons na microscopia eletrônica?

Em qual tipo de microscopia eletrônica são mais comumente utilizadas as técnicas de detecção de elétrons secundários e elétrons retroespalhados?

A Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) é uma ferramenta poderosa que analisa a microestrutura de materiais sólidos em escala microscópica, combinando princípios de física eletrônica e óptica. São componentes da MEV, EXCETO:

A resolução espacial na microscopia eletrônica se refere à capacidade do microscópio em distinguir detalhes próximos uns dos outros na amostra. São fatores que influenciam a resolução espacial na microscopia eletrônica, EXCETO:

As imagens obtidas na microscopia eletrônica revelam detalhes da superfície ou da estrutura interna da amostra em uma escala microscópica. Relacione a Coluna 1 à Coluna 2, associando o tipo de microscopia eletrônica à sua descrição. Coluna…

A técnica de detecção de elétrons utilizada para obter imagens contrastadas na microscopia eletrônica, com base no retroespalhamento dos elétrons pela amostra, é a detecção de elétrons:

Sobre o que trata a Lei de Bragg?

São objetivos do sistema de vácuo na microscopia eletrônica em relação à prevenção de colisões, EXCETO:

O sistema de vácuo na Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET) é crucial para __________ as moléculas de ar da câmara do microscópio. Isso cria um ambiente no qual os elétrons podem se mover livremente sem colidir com as moléculas de gás…